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可控硅測(cè)試儀二手儀器設(shè)備

價(jià)格面議2023-06-12 11:37:12
  • 深圳市新耀德電子儀器有限公司
  • 磁性材料分析儀
  • 半導(dǎo)體特性測(cè)試儀,曲線(xiàn)圖示儀,二手儀器設(shè)備,晶體管圖示儀
  • 曾廣文
  • 13430798991(廣東深圳)
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深圳市新耀德電子儀器有限公司

注冊(cè)時(shí)間:2023-05-25

————認(rèn)證資質(zhì)————

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線(xiàn)上溝通

與商家溝通核實(shí)商家資質(zhì)

線(xiàn)下服務(wù)

核實(shí)商家身份所有交流確保留有證據(jù)

服務(wù)售后

有保障期的服務(wù)請(qǐng)與商家確定保障實(shí)效

介子分析儀 SY-8219 品牌 Agilent/安捷倫
工作溫度 常溫 顯示方式 數(shù)字式
晶體管 CS-3100 類(lèi)型 多參數(shù)測(cè)試儀

可控硅測(cè)試儀二手儀器設(shè)備

IWATSU B-H ANALYZER SY-8218 磁性材料特性測(cè)試分析儀二手,
IWATSU B-H ANALYZER SY-8218磁性材料分析、磁性材料特性測(cè)試分析儀SY-8219



用于超寬帶域的高頻材料分析

SY-8218: 10Hz ~ 10MHz

SY-8219: 10Hz ~ 1MHz



用途

軟磁性材料, 硅鋼片, 電感等

傳統(tǒng)汽車(chē)車(chē)載電子零部件

電器電子一般電器產(chǎn)品

電子零部件,組件

材料非金屬材料

適合于測(cè)試硅鋼片、鐵氧體、非晶體材料等軟磁性材料磁特性


二手CS3200日本IWATSU CS-3300半導(dǎo)體特性曲線(xiàn)圖示儀,
半導(dǎo)體特性曲線(xiàn)圖示儀!適用于二極管,晶體管 IGBT,場(chǎng)效應(yīng)管 MOS-FET, 可控硅 SCR,達(dá)林頓陣列,光電耦合,壓變電阻 VARISTOR,繼電器 RELAY 等半導(dǎo)體器件反向 恢復(fù)特性,短路特性,雪崩測(cè)試,結(jié)電容/電阻測(cè)試,漏電參數(shù),擊穿參數(shù),增益參數(shù),導(dǎo) 通參數(shù),混合參數(shù),電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 特性測(cè)試。

測(cè)量頻率:10Hz 至 10MHz (SY-8218),10Hz 至 1MHz (SY-8219)
應(yīng)用波形:正弦波、方波(10Hz~1MHz)
最大輸入電流:±6A
最大輸入電壓:±200V
勵(lì)磁方法:自動(dòng)勵(lì)磁

(最大磁場(chǎng)、最大磁通密度、最大勵(lì)磁電流、最大感應(yīng)電壓指定)
乘以衰減交變磁場(chǎng),以免留下殘留磁化而減磁
規(guī)格
項(xiàng)目規(guī)格

磁場(chǎng)信號(hào)檢測(cè) 無(wú)感應(yīng)電阻器兩端電壓降法最大容許電流±6A
磁通密度信號(hào)檢測(cè) 感應(yīng)電壓檢測(cè)線(xiàn)圈兩端電壓檢測(cè)法
最大容許電壓±200V
數(shù)字化儀 分辨率 16bits (8192points / cycle)
樣品連接方法 2繞線(xiàn)法或1繞線(xiàn)法
顯示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素
電源 100V 至 240V50/60Hz 功耗約 130VA(MAX)
尺寸 (mm), 質(zhì)量 420W×266H×480D(不含突起部),主體約12.5kg
外部存儲(chǔ)器 USB(數(shù)據(jù)存儲(chǔ))
配件 POD 蓋、交流耦合模塊、功率放大器電纜 (BNC-BNC)、OSC 電纜 (BNC-SMA)、電源線(xiàn)、用戶(hù)指南、用戶(hù)手冊(cè) (CD)
半導(dǎo)體特性曲線(xiàn)圖示儀 CS-3100 CS3300 TEK370A Iwatsu (巖崎),
產(chǎn)品特點(diǎn)
顯示屏: 8.4″ 彩色TFT液晶顯示屏
正確測(cè)試半導(dǎo)體如IGBTs, MOSFETs, 晶體管和二極管的最佳解決方案
采用電路圖模式顯示內(nèi)部的配線(xiàn)狀態(tài) (CONFIGURATION), 更好地避免模塊測(cè)試時(shí)的誤操作(附圖)
WAVE模式: 能確認(rèn)實(shí)際印加電流和電壓波形的監(jiān)察模式 (附圖)
可以像示波器一樣通過(guò)觀察模塊上實(shí)際印加電流和電壓的波形來(lái)確定脈寬和實(shí)際測(cè)試點(diǎn) (Timing)
可通關(guān)確認(rèn)實(shí)際波形, 適時(shí)調(diào)整脈寬和測(cè)試點(diǎn)
避免示波器的探棒影響, 可確認(rèn)實(shí)時(shí)的異常信號(hào)
可非常容易地確認(rèn)模塊發(fā)熱等引起的振蕩等熱異常情況
可實(shí)現(xiàn)SiC和GaN等器件的電容測(cè)試 (選件CS-603A/CS-605A)
可實(shí)現(xiàn)晶圓和芯片上的電容測(cè)試 (探針臺(tái)和選件CS-603A/CS-605A)
標(biāo)配LAN和USB接口
標(biāo)準(zhǔn)配置 (主機(jī)背面)
測(cè)試點(diǎn)數(shù)可調(diào)整.可根據(jù)需要的掃描速度及分辨率來(lái)設(shè)置. 根據(jù)不同用途可改變掃描方向. 同時(shí)具有客戶(hù)指定功能, 可以指定僅對(duì)某一段進(jìn)行掃描, 特別是在自動(dòng)測(cè)試時(shí)可以實(shí)現(xiàn)高速且高分辨率的測(cè)試(附圖)
限制掃描功能 (選件CS-800)
在一般的掃描測(cè)試中加入電流, 電壓的限制功能. 限制在被測(cè)模塊上印加的電流值, 電壓值以起到保護(hù)作用. 也可在達(dá)到目標(biāo)值時(shí)停止掃描(附圖)
Vth-hFE自動(dòng)檢測(cè)功能(選件CS-800)
可在條件設(shè)?后進(jìn)行自動(dòng)測(cè)試, 避免了之前的繁雜操作
Constant 功能 (選件CS-800)
可印加規(guī)定電壓或規(guī)定電流. 與CS-810半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件配合使用時(shí), 可使用半導(dǎo)體曲線(xiàn)圖示儀進(jìn)行自動(dòng)疲勞測(cè)試
溫度特性測(cè)試 (選件CS-810)
通過(guò)CS-810半導(dǎo)體測(cè)試軟件對(duì)曲線(xiàn)圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板的自動(dòng)控制, 實(shí)現(xiàn)溫度特性評(píng)估試驗(yàn)的全自動(dòng)測(cè)試 (附圖)
CS-810是一個(gè)可安裝于電腦中的選件應(yīng)用軟件. 通過(guò)以太網(wǎng)控制圖示儀, 掃描系統(tǒng), 加熱板等設(shè)備, 經(jīng)簡(jiǎn)單的設(shè)置后就可將一直以來(lái)只能手動(dòng)測(cè)試的曲線(xiàn)圖示儀實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試, 大幅地提升工作效率
全自動(dòng)化測(cè)試:測(cè)試→記錄→判斷. 提高品管和品檢的工作效率 (附圖)

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