在機(jī)器視覺、表層檢測(cè)、物理復(fù)制、自動(dòng)加工、產(chǎn)質(zhì)量量控制、生物醫(yī)學(xué)等諸多領(lǐng)域。物體的3D信息必不可少。因此，如何獲得物體的三維信息，即形創(chuàng)三維掃描，已經(jīng)得到了發(fā)展。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和光電技術(shù)的飛速發(fā)展，新的三維掃描技術(shù)和測(cè)量方法不斷涌現(xiàn)。根據(jù)傳感方式的不同，常用的三維掃描技術(shù)可分為接觸式和非接觸式。接觸式采用檢測(cè)頭直接接觸物體表層。將檢測(cè)頭反饋的光電信號(hào)轉(zhuǎn)換成若干文字形狀信息，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)物體形狀的掃描測(cè)量，包括三坐標(biāo)測(cè)量法和電磁數(shù)字測(cè)量法。

測(cè)量速度慢；檢測(cè)某些內(nèi)部成分存在固有的局限性，需要對(duì)探頭半徑進(jìn)行補(bǔ)償才能獲得物體的真實(shí)形狀，這就可能造成校正偏差的問題；接觸式探頭在測(cè)量時(shí)，接觸式探頭的力會(huì)引起探頭尖與被測(cè)件之間的局部變形，從而影響測(cè)量值的實(shí)際讀數(shù)；由于探頭觸發(fā)機(jī)構(gòu)的慣性和延時(shí)，探頭會(huì)越出，逼近速度會(huì)產(chǎn)生動(dòng)態(tài)偏差。

隨著計(jì)算機(jī)機(jī)器視覺作為一門新興學(xué)科的興起和發(fā)展，利用非接觸式形創(chuàng)三維掃描已成為一種普遍趨勢(shì)。這種非接觸測(cè)量不僅可以避免接觸測(cè)量中探頭半徑補(bǔ)償?shù)穆闊?，而且可以?shí)現(xiàn)對(duì)各種表層的高速三維掃描。目前非接觸式三維測(cè)量方法很多，包括激光掃描測(cè)量、結(jié)構(gòu)光掃描測(cè)量和工業(yè) ct 測(cè)量，它們包括陰影法、條紋法、聚焦法、光譜儀法和三維模型法，包括飛行時(shí)間距離探測(cè)法、被動(dòng)三角測(cè)量法等。點(diǎn)激光測(cè)量技術(shù):用激光將單個(gè)點(diǎn)發(fā)射至物體表層，另一側(cè)用傳感器進(jìn)行觀察。物體的三維信息通過(guò)每個(gè)測(cè)量點(diǎn)反映出來(lái)。它的特色是精度高，但測(cè)量速度慢，比三坐標(biāo)系統(tǒng)快。線激光掃描技術(shù):向物體表層發(fā)射一束光（稱為光刀），用傳感器觀察另一側(cè)變形的光刀，通過(guò)解調(diào)光刀的變形來(lái)恢復(fù)物體的三維信息。

表層掃描技術(shù):所開發(fā)的技術(shù)主要是結(jié)構(gòu)光掃描，利用發(fā)射系統(tǒng)發(fā)射表層光（表層激光或條紋），利用傳感器觀察另一側(cè)的形變條紋，結(jié)合相位技術(shù)和計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)解調(diào)形變條紋，恢復(fù)物體的三維信息。這項(xiàng)技術(shù)近年來(lái)得到了很大的發(fā)展，可以快速獲取物體表層的表層形狀信息，測(cè)量精度高，測(cè)量環(huán)境低，在形創(chuàng)三維掃描方面具有很大的優(yōu)勢(shì)。代表性的系統(tǒng)有照相3d掃描儀。