功率半導(dǎo)體測(cè)試平臺(tái)功率器件測(cè)試設(shè)備
————認(rèn)證資質(zhì)————
- 個(gè)人已認(rèn)證
- 企業(yè)未認(rèn)證
- 微信未認(rèn)證
- 手機(jī)已認(rèn)證
線上溝通
與商家溝通核實(shí)商家資質(zhì)
線下服務(wù)
核實(shí)商家身份所有交流確保留有證據(jù)
服務(wù)售后
有保障期的服務(wù)請(qǐng)與商家確定保障實(shí)效
功率半導(dǎo)體測(cè)試平臺(tái)功率器件測(cè)試設(shè)備
普賽斯功率半導(dǎo)體測(cè)試平臺(tái)功率器件測(cè)試設(shè)備特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
單臺(tái)Z大3500V輸出；
單臺(tái)Z大1000A輸出，可并聯(lián)后Z大4000A；
15us的超快電流上升沿；
同步測(cè)量；
國(guó)標(biāo)全指標(biāo)的自動(dòng)化測(cè)試；
可定制夾具；
nA級(jí)電流和uΩ級(jí)電阻測(cè)量；
測(cè)試項(xiàng)目
集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容
續(xù)流二極管壓降Vf
I-V特性曲線掃描，C-V特性曲線掃描等
測(cè)試夾具
針對(duì)市面上不同封裝類型的硅基功率半導(dǎo)體，IGBT、SiC、MOS、GaN等產(chǎn)品，普賽斯提供
整套測(cè)試夾具解決方案，可用于T0單管，半橋模組等產(chǎn)品的測(cè)試。
普賽斯以自主研發(fā)為導(dǎo)向，深耕半導(dǎo)體測(cè)試領(lǐng)域，在I-V測(cè)試上積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，先后推出了直流源表，脈沖源表、脈沖恒流源、脈沖恒壓源、功率器件靜態(tài)測(cè)試系統(tǒng)、大功率激光器老化測(cè)試系統(tǒng)等測(cè)試設(shè)備，廣泛應(yīng)用于高校研究所、實(shí)驗(yàn)室，新能源，光伏，風(fēng)電，軌交，變頻器等場(chǎng)景。功率半導(dǎo)體測(cè)試平臺(tái)功率器件測(cè)試設(shè)備詳詢一八一四零六六三四七六
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周鵬
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