I-siteXR3超長距離三維激光掃描儀

成都邁恩探索科技有限公司Maptek I-siteXR3三維激光掃描儀I-siteXR3三維激光掃描儀一機(jī)多用，超長距離，精準(zhǔn)。Maptek I-site XR3是 新一款三維激光測(cè)量系統(tǒng)，其內(nèi)置了高速、高精度激光器，高分辯率數(shù)碼相機(jī)，測(cè)量型望遠(yuǎn)鏡，結(jié)合其強(qiáng)大的后處理軟件，在保障測(cè)量安全的前提下，大大提高了工作效率。 Maptek I-siteXR3相對(duì)于早期的8000系列，其速度提了150%，體積減小了30%，重量減輕了25%，IP65的高防護(hù)等級(jí)保障了設(shè)備在惡劣環(huán)境下的正常使用。新系統(tǒng)改進(jìn)了內(nèi)置數(shù)碼相機(jī)，提高了像素，為巖土工程分析提供了更精準(zhǔn)的參考。 新一代的Maptek I-siteXR3三維激光掃描儀，可用于提高礦山數(shù)字化水平，可服務(wù)于礦山測(cè)繪工程師，巖土工程師，地質(zhì)工程師，采礦工程師等。結(jié)合專業(yè)的處理軟件，可為傳統(tǒng)測(cè)量、城市測(cè)量、建筑測(cè)量和基礎(chǔ)設(shè)施測(cè)量提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù). 軟硬件的完美配合簡(jiǎn)化了工作流程。該系統(tǒng)現(xiàn)場(chǎng)安裝方便，可提高外業(yè)效率。巖土工程師和地質(zhì)工程師可花較少的外業(yè)時(shí)間采集現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)，為地質(zhì)填圖和巖土分析提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。 Maptek I-site XR3三維激光掃描儀有多種安裝模式，可安裝在三腳架上，可安裝在車上進(jìn)行車載測(cè)量。該系統(tǒng)還可以用于邊坡穩(wěn)定性監(jiān)測(cè)。模塊化的設(shè)計(jì)可依所用戶需求選擇相應(yīng)的配置。基本功能距離精度5mm重復(fù)精度4mmIP65的防護(hù)等級(jí)自動(dòng)數(shù)據(jù)拼接人體工程學(xué)設(shè)計(jì)一體化設(shè)計(jì)靈活的系統(tǒng)配置ISO9022質(zhì)量認(rèn)證為什么選擇XR3設(shè)計(jì)可靠：一體化設(shè)計(jì)，提高了對(duì)惡劣環(huán)境的適應(yīng)。人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，便于安裝操作簡(jiǎn)潔：多種安裝模式，可適應(yīng)于不同環(huán)境外業(yè)效率高：多種拼接模式，可提高數(shù)據(jù)精度可通過USB快速傳遞數(shù)據(jù)可應(yīng)用于巖土工程分析可實(shí)現(xiàn)連續(xù)車載，應(yīng)用于邊坡穩(wěn)定性分析，可應(yīng)用于施工質(zhì)量驗(yàn)收，提供全面的技術(shù)支持和國示質(zhì)保。應(yīng)用領(lǐng)域：大型或中型露天礦山、地形測(cè)量、料堆體積測(cè)量、變形監(jiān)測(cè)和巖體穩(wěn)定性分析、施式質(zhì)量驗(yàn)收、爆破質(zhì)量分析、地質(zhì)填圖、巖土工程分析、侵蝕變形研究基本參數(shù)：尺寸 390mm x 192mm x 318mm重量 9.4kg電池 內(nèi)置鋰電池，續(xù)航時(shí)間4小時(shí)自動(dòng)調(diào)平精度 20工作溫度 -40℃+50℃存儲(chǔ)溫度 -40℃+70℃內(nèi)置羅盤精度 ±1o內(nèi)置GPS精度 L1質(zhì)量認(rèn)證 ISO 9022防護(hù)等級(jí) IP65(IEC 60529)數(shù)據(jù)傳輸 有線或無線掃描儀參數(shù)大測(cè)距 2400mm小測(cè)距 2.5mm距離精度 5mm重量精度 ±4mm激光發(fā)散角 0.25mrad數(shù)據(jù)采集速率 50KHz,100KHz,200KHz激光等級(jí) 1級(jí)安全激光波長 1545nm（近紅外）角度步距 0.2o至0.0125o視場(chǎng)角 水平：360o 垂直：100o公司：成都邁恩探索科技有限公司（官方網(wǎng)站名稱）聯(lián)系電話：手機(jī)：聯(lián)系人：夏經(jīng)理