半導(dǎo)體分立器件是組成集成電路的基礎(chǔ)，包含大量的雙端口或三端口器件，如二極管，晶體管，場效應(yīng)管等。 直流 I-V 測試則是表征微電子器件、工藝及材料特性的基石。通常使用 I-V 特性分析，或 I-V 曲線，來決定器件的基本參數(shù)。微電子器件種類繁多，引腳數(shù)量和待測參數(shù)各不相同，除此以外，新材料和新器件對(duì)測試設(shè)備提出了更高的要求，要求測試設(shè)備具備更高的低電流測試能力，且能夠支持各種功率范圍的器件。分立器件 I-V 特性測試的主要目的是通過實(shí)驗(yàn)，幫助工程師提取半導(dǎo)體器件的基本 I-V 特性參數(shù)，并在整個(gè)工藝流程結(jié)束后評(píng)估器件的優(yōu)劣。

數(shù)字源表作為電學(xué)測量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)幾乎都能看到，源表集多表合一、配上專業(yè)軟件即可實(shí)現(xiàn)各種定制測量，使用非常廣泛。

作為數(shù)字源表生產(chǎn)廠家，普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度數(shù)字源表，填補(bǔ)國產(chǎn)空白，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能，S系列最大輸出電壓達(dá)300V，最小測試電流達(dá)100pA，全觸摸屏操作，支持四象限工作，因此能廣泛的應(yīng)用于各種電氣特性測試中:半導(dǎo)體IC或元器件，功率器件，傳感器，有機(jī)材料與納米材料等特性測試和分析。詳詢一八一四零六六三四七六；