寬量程30μV-1200V,1pA-100A半導(dǎo)體參數(shù)分析儀特點(diǎn)：

30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力；

測量精度高,全量程下可達(dá)0.03%精度；


內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測試程序，直接調(diào)用測試簡便；


自動實(shí)時參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)；

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線；

提供靈活的夾具定制方案，兼容性強(qiáng)；

免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集；



典型應(yīng)用：

納米、柔性等材料特性分析；


二極管；


MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；


第三代半導(dǎo)體材料/器件；


有機(jī)OFET器件；


LED、OLED、光電器件；

半導(dǎo)體電阻式等傳感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；

電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量；

太陽能電池；

非易失性存儲設(shè)備；

失效分析；